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從二維到準三維的超快速成像
北京理工大學的科學家們開發了一種超快速準三維技術,克服了二維圖像中信息缺失和特征不完整的缺點,允許對超快速過程的三維特征進行分析。 這項研究發表在《國際極限制造》期刊上,展示了如何基于二維信息收集實現三維特征分析。 通過垂直偏振成像,獲得了高信噪比的反射透射圖像,通過對比兩個視點...